TomoScope XS FOV在探測器的視場內(nèi)用X射線斷層掃描進行測量，用于制造和測量室，靈活和易于使用，用于工業(yè)計算機斷層掃描的快速測量。三維測量直接在探測器的視場內(nèi)進行，不需要移動軸，可以自動化。幾個小工件，如蓋子或鏍絲，可以用合適的夾具一起測量，TomoScope XS FOV是在大量生產(chǎn)的塑料工件的生產(chǎn)過程中進行測量的理想選擇